电压测试芯片:低压检测复位IC工作原理

电压测试芯片是一种用于检测电压并将其转换为可读取信号的芯片。其中，低压检测复位IC是一种常见的电压测试芯片，它主要用于检测电源电压，当电源电压低于某个阈值时，会触发复位信号，使系统重新启动或进入低功耗模式。

低压检测复位IC通常由电压检测器、触发器和复位信号输出组成。电压检测器通过检测电源电压的变化，将其转换为相应的电信号。触发器则根据电信号的输出状态，触发复位信号的输出。复位信号通常是一个低电平有效的信号，当它被触发时，会使系统重新启动或进入低功耗模式。

在正常工作时，电源电压会持续稳定在一个阈值范围内。此时，电压检测器输出的电信号也会保持稳定，不会触发复位信号的输出。但是，当电源电压下降到阈值以下时，电压检测器输出的电信号也会发生变化，进而触发触发器输出复位信号。这个过程可以通过相应的电路进行监控和调试，以确保系统的稳定运行。

除了检测电源电压之外，低压检测复位IC还可以用于检测其他类型的电压，例如电池电压或信号电压等。这些检测可以用于触发相应的动作或报警信号，以确保系统的安全和可靠性。

总之，电压测试芯片中的低压检测复位IC是一种重要的芯片类型，它能够有效地监测电源电压的变化，确保系统的稳定运行。同时，它还可以用于检测其他类型的电压，为系统的安全和可靠性提供保障。

当内建的低电压复位电路的电压与应用规格不同时，可选用外部低电压检测IC 的复位电路。

• 可提供低电压复位功能，需配合外部简易型RC 复位电路或高抗干扰RC 复位电路来达到完整的复位功能。

• RRES、CRES、RN 和CN 的建议数值与简易型RC 复位电路及高抗干扰RC 复位电路相同。

• CRES(针对简易型RC 复位电路)和CN(针对高抗干扰RC 复位电路)在PCB 板上的位置及布线要求与简易型RC复位电路及高抗干扰RC 复位电路相同。

内部POR 电路和内部低电压复位电路

• 为加强MCU 的保护完整性，并简化外部应用电路设计及成本，在MCU 内部提供有上电复位(POR)电路和低电压复位(LVR)电路。

• POR 电路主要是内建一组低RC 时间常数的复位电路，具有上电时产生复位的功能。其对MCU 内部的初始化动作，除了TO 和PDF 旗标被清为“0”之外，其余的状态均与RES 复位相同。当使用此复位功能时，因POR 时间常数较小，为了使POR 可以正常动作，电源上升速度应尽量要求快速。

• LVR 电路主要功能是当VDD 小于特定电压(视规格而定)，且持续时间大于1ms 时，LVR 将会被激活，其对MCU 内部的初始化动作与RES 复位相同。

■产品概述

FS61C 系列芯片是使用 CMOS 技术开发的高精度、低功耗、小封装电压检测芯片。检测电压在小温度漂移的情况下保持极高的精度。客户可选择 CMOS 输出或 Open Drain 输出。

■产品特点

高精度：±2%

低功耗：2.0µA(VIN=1.5V)

检测电压范围：1.0V~6.0V，100mV 步进

工作电压范围：0.7V~7.0V

检测电压温度特性：±100ppm(typ.)

输出配置：N-channel open drain 或 CMOS

■用途

微处理器复位电路

存储器电池备份电路

上电复位电路

供电失效检测

系统电池寿命和充电电压监视。

窗比较器

波形锐化电路

■封装

SOT23-3L